1 范圍

      本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線計(jì)算機(jī)斷層成像安全檢查系統(tǒng)的系統(tǒng)分類、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志和隨機(jī)文件、包裝、運(yùn)輸及貯存。

      本標(biāo)準(zhǔn)適用于X射線計(jì)算機(jī)斷層成像安全檢查系統(tǒng)，是設(shè)計(jì)、制造、驗(yàn)收和使用此類設(shè)備的依據(jù)。

2 規(guī)范性引用文件

      下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

      GB/T 191-2008 包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志

      GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

      GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

      GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

      GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊

      GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Fc：振動(dòng)（正弦）

      GB/T 4208-2017 外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）

      GB 4793.1-2007 測量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分：通用要求

      GB 15208.1-2018 微劑量X射線安全檢查設(shè)備 第1部分：通用技術(shù)要求

      GB 15208.2-2018 微劑量X射線安全檢查設(shè)備 第2部分：透射式行包安全檢查設(shè)備

      GB/T 17799.2-2003 電磁兼容 通用標(biāo)準(zhǔn) 工業(yè)環(huán)境中的抗擾度試驗(yàn)

      GB 17799.4-2012 電磁兼容 通用標(biāo)準(zhǔn) 工業(yè)環(huán)境中的發(fā)射

3 術(shù)語和定義

      下列術(shù)語和定義適用于本文件。

3.1

      X射線計(jì)算機(jī)斷層成像 X-ray computed tomography

      計(jì)算機(jī)斷層掃描

      一種利用一系列不同角度的X射線透視圖像通過計(jì)算機(jī)運(yùn)算處理得到物體內(nèi)部截面圖像的成像方法。

3.2

      X射線計(jì)算機(jī)斷層成像安全檢查系統(tǒng) X-raycomputed tomography security inspection system

      一種利用X射線計(jì)算機(jī)斷層成像方法對行李、物品進(jìn)行成像的產(chǎn)品，該產(chǎn)品通過獲取物體在不同視角下的投影進(jìn)行重建運(yùn)算，得到被檢物體的斷層圖像，進(jìn)而識(shí)別物質(zhì)的衰減系數(shù)、密度和等效原子序數(shù)等信息，并給出違禁品報(bào)警提示。

3.3

      線對 line pair

      多個(gè)尺寸相同且平行的鋁板，兩板之間的距離與板厚相同，用板厚（mm）表示線對的規(guī)格。

3.4

      空間分辨率 spatial resolution

      系統(tǒng)鑒別和區(qū)分物體微小細(xì)節(jié)特征的能力。

      注：用系統(tǒng)所能識(shí)別的單位距離內(nèi)的最大線對 (lp/cm)數(shù)表示。

3.5

      密度分辨率 density resolution

      系統(tǒng)能夠區(qū)分密度相近物質(zhì)的能力。

      注：用兩種物質(zhì)密度差的絕對值相對于其中低密度物質(zhì)密度值的百分比表示。

3.6

      原子序數(shù)測量值差異性 difference of atomic number measurements

      δ_z

      系統(tǒng)對不同尺寸的同一種物質(zhì)原子序數(shù)測量值的差異。

      見公式（1）：

      式中：

      Z₁、Z₂——掃描2種不同尺寸的某一物質(zhì)所得到的一個(gè)斷層圖像上原子序數(shù)的平均值。

3.7

      測量值相對偏差 relative deviation of test value

      衡量系統(tǒng)測量穩(wěn)定性的技術(shù)指標(biāo)，用指定若干種條件下的測量值及其相對差異來表示。

3.8

      測試體 test block

      用于測試和評價(jià)圖像性能指標(biāo)的測試物。

3.9

      測試箱 test case

      用于盛裝測試體，可整個(gè)通過系統(tǒng)，以完成對系統(tǒng)部分性能指標(biāo)檢查的特制手提箱。

3.10

      通過率 throughput rate

      系統(tǒng)單位時(shí)間內(nèi)檢查行李的數(shù)量。

      注：用每小時(shí)的過檢行李件數(shù)（件/h）表示。

3.11

      泄漏射線劑量率 leakage of dose rate

      單位時(shí)間內(nèi)穿過系統(tǒng)輻射屏蔽防護(hù)，泄漏到系統(tǒng)外部指定位置的電離輻射強(qiáng)度。

      注：單位為 μGy/h。

3.12

      違禁品 contraband

      具有爆炸性、易燃性、腐蝕性等各種危害各類公共場所安全的危險(xiǎn)物品，以及其他由用戶認(rèn)定的不應(yīng)被通行的物品。

3.13

      危險(xiǎn)品圖像注入 threat image projection；TIP

      在掃描的行李圖像中隨機(jī)插入危險(xiǎn)品圖像。用于考核判圖員的人工判圖能力。

3.14

      二次電源 secondary power source

      由系統(tǒng)主輸入電源進(jìn)行電源變換而生成的用于二次回路的電源。

4 系統(tǒng)分類

      按系統(tǒng)的通過率指標(biāo)，對系統(tǒng)分類如下：

      a）高速檢查系統(tǒng)；

      b）中速檢查系統(tǒng)；

      c）低速檢查系統(tǒng)。

5 技術(shù)要求

5.1 外觀與結(jié)構(gòu)

5.1.1 系統(tǒng)外觀應(yīng)完好，表面應(yīng)平整光潔、色澤均勻，無明顯機(jī)械損傷，金屬件應(yīng)無銹蝕，塑料件應(yīng)無起泡、開裂。

5.1.2 系統(tǒng)表面及顯示面板上的標(biāo)志和字符應(yīng)清晰可辨。

5.1.3 系統(tǒng)框架有足夠的強(qiáng)度和剛度，在正常搬運(yùn)中不應(yīng)產(chǎn)生變形和損壞。

5.1.4 外殼防護(hù)等級(jí)應(yīng)不低于GB/T 4208-2017中IP20的要求。

5.2 性能指標(biāo)

5.2.1 空間分辨率

      系統(tǒng)的空間分辨率測量值應(yīng)大于或等于2.00lp/cm。

5.2.2 密度分辨率

      系統(tǒng)的密度分辨率應(yīng)小于或等于3%。

5.2.3 原子序數(shù)測量值差異性（不適用于單能系統(tǒng)）

      系統(tǒng)對不同尺寸的同一種物質(zhì)的原子序數(shù)測量值的差異應(yīng)小于或等于15%。

5.2.4 測量值相對偏差

      系統(tǒng)對分別置于系統(tǒng)通道底部幾何中心和邊緣的水柱測試體的測量值相對偏差應(yīng)滿足：

      a）無干擾物、同一尺寸條件下，測量值的相對偏差不超過1.5%；

      b）有干擾物、同一尺寸條件下，測量值的相對偏差不超過3%；

      c）無干擾物、不同尺寸條件下，測量值的相對偏差不超過3%。

5.2.5 通過率

      不同類別系統(tǒng)的通過率應(yīng)符合表1的規(guī)定。

以上為標(biāo)準(zhǔn)部分內(nèi)容，如需看標(biāo)準(zhǔn)全文，請到相關(guān)授權(quán)網(wǎng)站購買標(biāo)準(zhǔn)正版。